Toshio Takahashi: "Studies on Si(III)√<3>×√<3>-Bi and-Ag surfaces by x-ray diffraction under nearly normal incidence" Review of Scientific Instruments. 60. 2365-2368 (1989)
Toshio Takahashi: "Studies on Si(III)√<3>×√<3>-Bi and-Ag surfaces by x-ray diffraction under nearly normal incidence" Review of Scientific Instruments. 60. 2365-2368 (1989)
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Toshio Takahashi：“通过近法线入射下的 X 射线衍射研究 Si(III)√<3>×√<3>-Bi 和-Ag 表面”科学仪器评论 60. 2365-2368 (1989)。
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