走査トンネル顕微鏡に探る表面電子状態
走査トンネル顕微鏡に探る表面電子状態
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使用扫描隧道显微镜探索表面电子态
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂根 駿也;三輪 俊一朗;石部 貴史;中村 芳明;田中 秀樹;長谷川幸雄
