ケルビンプローブフォース顕微鏡によるオペランド電位計測技術
ケルビンプローブフォース顕微鏡によるオペランド電位計測技術
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使用开尔文探针力显微镜的操作电位测量技术
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
石田 暢之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Uedono Akira;Tanaka Ryo;Takashima Shinya;Ueno Katsunori;Edo Masaharu;Shima Kohei;Kojima Kazunobu;Chichibu Shigefusa F.;Ishibashi Shoji;Tomi Ohtsuki;石田 暢之
