Photon counting X-ray CT with a CdTe semiconductor detector
Photon counting X-ray CT with a CdTe semiconductor detector
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使用 CdTe 半导体探测器进行光子计数 X 射线 CT
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Kowase
中科院分区：
文献类型：
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作者：
加藤和夫;和田森直;松田甚一;高橋英明;宇塚岳夫;田中隆一;小輪瀬一彦;小輪瀬一彦;K.Kowase;K.Kowase;小輪瀬一彦;小輪瀬一彦;吉竹純平;K.Kowase
使用光子计数像素探测器进行光谱 X 射线成像
DOI：
10.1016/j.nima.2010.02.088
发表时间：
2010
影响因子：
1.4
作者：
L. Tlustos
通讯作者：
L. Tlustos
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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作者：
D. Niederlohner;J. Karg;J. Giersch;G. Anton
通讯作者：
G. Anton