Measurement of Dielectric Property in Terahertz Region Using Far-Infrared Ellipsometer
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复制标题
利用远红外椭偏仪测量太赫兹区域介电性能
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takaaki Tsurumi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takuya Hoshina;Kazuki Kanehara;Hiroaki Takeda;Takaaki Tsurumi
