後方散乱X線断層撮像による片側からの非破壊検査技術の開発
後方散乱X線断層撮像による片側からの非破壊検査技術の開発
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使用背散射X射线断层扫描从一侧进行无损检测技术的开发
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
吉田 迅，山﨑 淳，渡辺 賢一，瓜谷 章
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Yoshioda;A. Yamazaki ;K. Watanabe;A. Uritani;吉田 迅，山﨑 淳，渡辺 賢一，瓜谷 章
