光再構成ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析
光再構成ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析
复制标题
光可重构门阵列全息图存储器的容错分析
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡邊
中科院分区：
文献类型：
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作者：
篠原;渡邊
