Chen, X., Kinoshita, K., Honjo, T.: "Variable deletion and duplication at recombination junction ends: implication for staggered double-strand cleavage in class switch recombination"Proceedings of National Academy of Science U.S.A.. 98・24. 13860-13865 (20
Chen, X., Kinoshita, K., Honjo, T.: "Variable deletion and duplication at recombination junction ends: implication for staggered double-strand cleavage in class switch recombination"Proceedings of National Academy of Science U.S.A.. 98・24. 13860-13865 (20
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Chen, X.、Kinoshita, K.、Honjo, T.：“重组连接端的可变删除和重复：类转换重组中交错双链裂解的含义”美国国家科学院院刊 98・24。 -13865 (20
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