ACF-COG interconnection conductivity inspection system using conductive area
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DOI：
10.1016/j.microrel.2012.11.004
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发表时间：
2013-04
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Sheng;Lei Jia;Z. Xiong;Zhiping Wang;H. Ding
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X. Sheng;Lei Jia;Z. Xiong;Zhiping Wang;H. Ding
