Full-chip wire-oriented back-end-of-line TDDB hotspot detection and lifetime analysis
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DOI：
10.1016/j.vlsi.2019.09.012
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shaoyi Peng;E. Demircan;M. Shroff;S. Tan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shaoyi Peng;E. Demircan;M. Shroff;S. Tan
