高频小功率硅双极器件ESD潜在失效的无损检测方法
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
武占成
中科院分区：
文献类型：
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作者：
杨洁;张希军;殷中伟;王振兴;武占成
