Lateral averaging effect on surface potential measurements on InAs dots studied by Kelvin probe force microscopy
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通过开尔文探针力显微镜研究 InAs 点表面电势测量的横向平均效应
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takuji Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shiano Ono;Takuji Takahashi
