MOS構造の重イオン照射誘起電流およびトータルドーズ効果
MOS構造の重イオン照射誘起電流およびトータルドーズ効果
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重离子辐照感应电流与MOS结构的总剂量效应
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野田忍
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高橋芳浩;平尾敏雄;小野田忍
