徳田崇,服部恭典,沖仲元毅,太田淳,布下正宏: "CAICISSによるGe/Si界面での偏析・拡散現象の評価"電子情報通信学会技術報告. SDM2000-173. 43-48 (2000)

Takashi Tokuda、Yasunori Hattori、Mototake Okinaka、Jun Ota、Masahiro Funoshita：“CAICISS 对 Ge/Si 界面的偏析和扩散现象的评估”SDM2000-173 (2000)。