Measurement of crystallization temperature of Pd-based amorphous alloy thin film by energy dispersive X-ray reflectometry
Measurement of crystallization temperature of Pd-based amorphous alloy thin film by energy dispersive X-ray reflectometry
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能量色散X射线反射法测量钯基非晶合金薄膜的结晶温度
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Inoue
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yamamoto;K. Hayashi;K. Suzuki;M. Ito;H. Kimura;A. Inoue
