E.Tokumitsu, T.Isobe, T.Kijima, H.Ishiwara: "Fabrication and Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal-Insulator-Semiconductor(MFMIS) Structures Using Ferroelectric (Bi, La)_4Ti_3O_<12> Films"Jpn. J. Appl. Phys. Vol.40 part 1, No.9B. 5576-5579 (2001)
E.Tokumitsu, T.Isobe, T.Kijima, H.Ishiwara: "Fabrication and Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal-Insulator-Semiconductor(MFMIS) Structures Using Ferroelectric (Bi, La)_4Ti_3O_<12> Films"Jpn. J. Appl. Phys. Vol.40 part 1, No.9B. 5576-5579 (2001)
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E.Tokumitsu、T.Isobe、T.Kijima、H.Ishiwara：“使用铁电 (Bi, La)_4Ti_3O_<12> 薄膜的金属-铁电-金属-绝缘体-半导体 (MFMIS) 结构的制造和表征”Jpn。
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