ケルビンフォースプローブ顕微鏡による還元した酸化グラフェン薄膜の表面電位観察
ケルビンフォースプローブ顕微鏡による還元した酸化グラフェン薄膜の表面電位観察
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使用开尔文力探针显微镜观察还原氧化石墨烯薄膜的表面电位
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林 慶裕
中科院分区：
文献类型：
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作者：
根岸 良太;高島 快;小林 慶裕
