Postoxidation annealing treatments to improve Si/ultrathin SiO_2, characteristics formed by nitric acid oxidation

Postoxidation annealing treatments to improve Si/ultrathin SiO_2, characteristics formed by nitric acid oxidation
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氧化后退火处理改善Si/超薄SiO_2、硝酸氧化形成的特性

DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
Journal of the Electrochemical Society 151
影响因子:
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通讯作者:
H.Kobayashi
H.Kobayashi
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Asuha;L.Yueh-Ling;0.Maida;M.Takahashi;H.Kobayashi

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