M.Iwami: "Metal-Semiconductor Interfaces 11.Soft X-ray Emission Spectroscopy:Valence Band Electronic Structures of Silicides and Non-destructive Depth Profiling" OHM-SHA,Ed.by A.Hiraki(印刷中), (1995)
M.Iwami: "Metal-Semiconductor Interfaces 11.Soft X-ray Emission Spectroscopy:Valence Band Electronic Structures of Silicides and Non-destructive Depth Profiling" OHM-SHA,Ed.by A.Hiraki(印刷中), (1995)
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M.Iwami：“金属-半导体界面 11.软 X 射线发射光谱：硅化物的价带电子结构和无损深度分析”OHM-SHA，A.Hiraki 编（出版中），（1995 年）
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