Identifying the Electronic Properties of Grain Boundaries in CdTe Thin-film Solar Cells Using Electron Backscatter Diffraction and Electron Beam Induced Current Techniques
Identifying the Electronic Properties of Grain Boundaries in CdTe Thin-film Solar Cells Using Electron Backscatter Diffraction and Electron Beam Induced Current Techniques
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使用电子背散射衍射和电子束感应电流技术识别 CdTe 薄膜太阳能电池晶界的电子特性
DOI：
10.1017/s1431927613005588
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发表时间：
2013
影响因子：
2.8
通讯作者：
S. Pennycook
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Poplawsky;Chen Li;N. Paudel;Yanfa Yan;S. Pennycook
在2013年8月4日至8月8日在美国印第安纳州印第安纳波利斯举行的显微镜和微量分析2013上发表的论文的扩展摘要。
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.