On Circuit Lower Bounds from Derandomization

On Circuit Lower Bounds from Derandomization
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论去随机化的电路下界

DOI:
10.4086/toc.2011.v007a012
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发表时间:
2011
影响因子:
1
通讯作者:
D. Melkebeek
D. Melkebeek
中科院分区:
计算机科学4区
文献类型:
--
作者:
S. Aaronson;D. Melkebeek

文献摘要

被引文献

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我们提出了 Kabanets 和 Impagliazzo (2004) 结果的替代证明,即去随机化多项式恒等测试意味着电路下界。我们的证明比原来的论证更简单,规模更好,并且产生了更强的结果。
We present an alternate proof of the result by Kabanets and Impagliazzo (2004) that derandomizing polynomial identity testing implies circuit lower bounds. Our proof is simpler, scales better, and yields a somewhat stronger result than the original argument.