H.Yaguchi,et al.: "Characterization of SiGe strained heterostructures grown by molecular beam epitaxy using a Si effusion cell" Thin Solid Films. 321. 241-244 (1998)
H.Yaguchi,et al.: "Characterization of SiGe strained heterostructures grown by molecular beam epitaxy using a Si effusion cell" Thin Solid Films. 321. 241-244 (1998)
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H.Yaguchi 等人：“使用硅渗流池通过分子束外延生长的 SiGe 应变异质结构的表征”固体薄膜。
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