M. Tabuchi, R. Takahashi, M. Araki, K. Hirayama, N. Futakuchi, Y. Shimogaki, Y. Nakano, and Y. Takeda: "X-ray CTR scattering measurement of InP/InGaAs/InP interface structures fabricated by different growth processes"Appl. Surf. Sci.. 159-160, 250-255 (20
M. Tabuchi, R. Takahashi, M. Araki, K. Hirayama, N. Futakuchi, Y. Shimogaki, Y. Nakano, and Y. Takeda: "X-ray CTR scattering measurement of InP/InGaAs/InP interface structures fabricated by different growth processes"Appl. Surf. Sci.. 159-160, 250-255 (20
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M. Tabuchi、R. Takahashi、M. Araki、K. Hirayama、N. Futakuchi、Y. Shimogaki、Y. Nakano 和 Y. Takeda：“通过 X 射线 CTR 散射测量制备的 InP/InGaAs/InP 界面结构
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