Structure and Property Gradation from Surface to Bulk As Evaluatpd by Nano-Scratch Tests Using Scanning Probe Microscopy
Structure and Property Gradation from Surface to Bulk As Evaluatpd by Nano-Scratch Tests Using Scanning Probe Microscopy
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使用扫描探针显微镜通过纳米划痕测试进行从表面到整体的结构和性能分级评估
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Daisuke Sawai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomoyuki Ichikawa;Masaki Kakiage;Hiroki Uehara;Takeshi Yamanobe;Daisuke Sawai
