Development of compact 4 probe AFM/KFM for investigation of electrical property in nanoscale
Development of compact 4 probe AFM/KFM for investigation of electrical property in nanoscale
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开发紧凑型 4 探针 AFM/KFM，用于研究纳米级电性能
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中山知信
中科院分区：
文献类型：
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作者：
新ヶ谷義隆; 繆滌霏;XU Jianxun;CREASEY Rhiannon; 青野正和;中山知信
