Photovoltage Decay Inves- tigated by Photoassisted Kelvin ProbeForce Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 SolarCells
Photovoltage Decay Inves- tigated by Photoassisted Kelvin ProbeForce Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 SolarCells
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利用光辅助 Kelvin ProbeForce 显微镜研究 Cu(In,Ga)Se2 太阳能电池上的光电压衰减
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Nakajima;T. Minemoto;and T. Takahashi
