TSV削減型3次元FPGAにおけるスイッチブロックテスト
TSV削減型3次元FPGAにおけるスイッチブロックテスト
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TSV 简化 3D FPGA 中的开关模块测试
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
前橋孝太，難波一輝，北神正人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.-T. Pham;X. Defago;前橋孝太，難波一輝，北神正人
