CMOS technology scaling and its implications

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CMOS 技术缩放及其影响

DOI:
10.1017/cbo9781316156148.002
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发表时间:
2015
期刊:
2017 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST)
影响因子:
--
通讯作者:
T. Iizuka
T. Iizuka
中科院分区:
--
文献类型:
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作者:
T. Iizuka

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