Analysis of traps in high quality CVD diamond films through the temperature dependence of carrier dynamics
Analysis of traps in high quality CVD diamond films through the temperature dependence of carrier dynamics
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通过载流子动力学的温度依赖性分析高质量 CVD 金刚石薄膜中的陷阱
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Pillon
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Marinelli;E. Milani;A. Paoletti;G. Pucella;A. Tucciarone;G. Rinati;M. Angelone;M. Pillon
