R.W.Collins,I.Shimizu: "Insitu observation using spectroscopic ellipsometry of surface of semiconductive thin films" OYO-BUTSURI. 65. 237-243 (1996)
R.W.Collins,I.Shimizu: "Insitu observation using spectroscopic ellipsometry of surface of semiconductive thin films" OYO-BUTSURI. 65. 237-243 (1996)
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R.W.Collins，I.Shimizu：“使用光谱椭圆光度法对半导体薄膜表面进行原位观察”OYO-BUTSURI。
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