Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
复制标题
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshikazu FUJII
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hosokawa Saburo;Oshino Yudai;Tanabe Toyokazu;Koga Hiroaki;Beppu Kosuke;Asakura Hiroyuki;Teramura Kentaro;Motohashi Teruki;Okumura Mitsutaka;Tanaka Tsunehiro;Yoshikazu FUJII
