Measurement of Complex Refractive Index of Tungsten by Using Ellipsometry.

Measurement of Complex Refractive Index of Tungsten by Using Ellipsometry.
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使用椭圆光度法测量钨的复折射率。

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Journal of Light & Visual Environment Vol.29, No.3
影响因子：
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通讯作者：
Masashi OHKAWA
Masashi OHKAWA
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Ayumu SATO;Seishi EKINE;Masashi OHKAWA

文献摘要

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