The new drift chamber of the MEG II experiment
The new drift chamber of the MEG II experiment
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MEG II实验的新型漂移室
DOI：
10.1016/j.nima.2018.10.182
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
C. Voena
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Chiappini;A. Baldini;G. Cavoto;F. Cei;G. Chiarello;M. Francesconi;L. Galli;F. Grancagnolo;M. Grassi;M. Hildebrandt;D. Nicoló;M. Panareo;A. Papa;F. Raffaelli;F. Renga;G. Signorelli;G. Tassielli;C. Voena
本文介绍了MEG II圆柱形漂移室（CDCH），这是MEG第二阶段的关键探测器，旨在达到6× 10−14量级的灵敏度水平，用于带电的轻子味违反μ+→e+ γ衰变（Calibbi和Signorelli, 2018； Cei和Nicolò， 2014）。CDCH旨在克服MEG e+跟踪器的局限性（Baldini et al., 2013），并保证探测器在高速率下长期稳定地正常运行。CDCH是一种具有高粒度的低质量独特体积探测器：9层192个漂移单元，几毫米宽，由约12000根导线在纵向撞击定位的立体配置中定义。总辐射长度是1。5× 10−3 × 0，从而最大限度地减少多重库仑散射（MCS）贡献，并允许单次命中分辨率为110 μ m （Baldini等人，2016）和动量分辨率为130 keV/c。将CDCH整合到MEG II实验设备（Baldini et al., 2018）将于今年开始。
This article presents the MEG II Cylindrical Drift CHamber (CDCH), a key detector for the phase 2 of MEG, which aims at reaching a sensitivity level of the order of 6× 1 0− 14 for the charged Lepton Flavour Violating μ+→ e+ γ decay (Calibbi and Signorelli, 2018; Cei and Nicolò, 2014). CDCH is designed to overcome the limitations of the MEG e+ tracker (Baldini et al., 2013) and guarantee the proper operation at high rates with long-term detector stability. CDCH is a low-mass unique volume detector with high granularity: 9 layers of 192 drift cells, few mm wide, defined by≈ 12000 wires in a stereo configuration for longitudinal hit localization. The total radiation length is 1. 5× 1 0− 3 X 0, thus minimizing the Multiple Coulomb Scattering (MCS) contribution and allowing for a single-hit resolution of 110 μ m (Baldini et al., 2016) and a momentum resolution of 130 keV/c. CDCH integration into the MEG II experimental apparatus (Baldini et al., 2018) will start in this year.
使用MEG II实验液氙伽马射线探测器时间校准计数器评估时间分辨率
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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作者：
Akabayashi;Hideo;Shimpei Taguchi;Mirka Zvedelikova;松下彩華
通讯作者：
松下彩華
MEG II 液氙探测器和模拟
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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作者：
Kensuke Yamamoto;Sei Ban;Kei Ieki;Atsuhiko Och;Rina Onda;Wataru Ootani;Atsushi Oya;Masato Takahashi;潘 晟;Sei Ban;Sei Ban
通讯作者：
Sei Ban