K.Kuroda et al.: "Interface and interphase analysis by TEM/FIB technique" Electron Microscopy 1998. 2. 631-632 (1998)
K.Kuroda et al.: "Interface and interphase analysis by TEM/FIB technique" Electron Microscopy 1998. 2. 631-632 (1998)
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K.Kuroda 等人：“通过 TEM/FIB 技术进行界面和界面分析”电子显微镜 1998. 2. 631-632 (1998)
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