SERIAL SECTIONING OF Ti-6Al-4V USING AN FIB-SEM DUAL BEAM SYSTEM
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使用 FIB-SEM 双束系统对 Ti-6Al-4V 进行连续切片
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Alexander Brodsky
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Alexander Brodsky
