H. Amano, J. Kawai et al.: "Characterization of island CuPc/Au multilayer using total reflection x-ray photoelectron spectroscopy" Adv. X-Ray Chem. Anal. Japan. 28. 31-44 (1997)
H. Amano, J. Kawai et al.: "Characterization of island CuPc/Au multilayer using total reflection x-ray photoelectron spectroscopy" Adv. X-Ray Chem. Anal. Japan. 28. 31-44 (1997)
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H. Amano、J. Kawai 等人：“使用全反射 X 射线光电子能谱表征岛状 CuPc/Au 多层”Adv。
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