Kimio OKUNO: "Evaluation of Si Ultra-thin Layer on Metals with FEM and FIM" Jpm.J.Appl.Phys.
Kimio OKUNO: "Evaluation of Si Ultra-thin Layer on Metals with FEM and FIM" Jpm.J.Appl.Phys.
复制标题
Kimio OKUNO：“利用 FEM 和 FIM 评估金属上的硅超薄层”Jpm.J.Appl.Phys。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
