Study of the Si(001) clean surface structure using a six-circle surface X-ray diffractometer
Study of the Si(001) clean surface structure using a six-circle surface X-ray diffractometer
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使用六圆表面X射线衍射仪研究Si(001)清洁表面结构
DOI：
10.1016/0039-6028(96)00062-3
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发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
M. Ando
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Takahasi;S. Nakatani;Y. Ito;Toshio Takahashi;Xiaowei Zhang;M. Ando
