Scanning Measurement of Surface Error and Thickness Variation of Hemispherical Resonator
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DOI：
10.1364/ao.467742
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Wenwen Lu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Dede Zhai;Jingyang Guo;Shanyong Chen;Wenwen Lu
