Structural and ferroelectric properties of bismuth-based compound thin films crystallized by hot isostatic pressing
Structural and ferroelectric properties of bismuth-based compound thin films crystallized by hot isostatic pressing
复制标题
热等静压结晶铋基化合物薄膜的结构和铁电性能
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Tada;et al.
