Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage Considering Passivation Thickness

Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage Considering Passivation Thickness
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考虑钝化厚度的电迁移损伤阈值电流密度评估

DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
2016 International Conference on Advances in Electrical, Electronic and Systems Engineering (ICAEESE 2016), Conference Paper Collection
影响因子：
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通讯作者：
K. Fujisaki
K. Fujisaki
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
H. Kikuchi;K. Sasagawa;K. Fujisaki

文献摘要

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