Toshihisa Shimizu: "Analysis of the High Frequency Leakage Current Caused by Parasitic Capacitor of the Power transistor Module." IEE of Japan,Proceedings of IPEC-YOKOHAMA. Vol.1. 217-222 (1995)
Toshihisa Shimizu: "Analysis of the High Frequency Leakage Current Caused by Parasitic Capacitor of the Power transistor Module." IEE of Japan,Proceedings of IPEC-YOKOHAMA. Vol.1. 217-222 (1995)
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Toshihisa Shimizu：“功率晶体管模块寄生电容引起的高频漏电流分析”。
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