Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
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基于统计编码的测试压缩的测试生成（VLSI测试与验证特刊）
DOI：
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发表时间：
2002
影响因子：
0.7
通讯作者：
A. Tamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ichihara;Atsuhiro Ogawa;Tomoo Inoue;A. Tamura
