Large Volume Electron Microscopy and Neural Microcircuit Analysis.
Large Volume Electron Microscopy and Neural Microcircuit Analysis.
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DOI：
10.3389/fncir.2018.00098
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发表时间：
2018
影响因子：
3.5
通讯作者：
Kawaguchi Y
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kubota Y;Sohn J;Kawaguchi Y
神经科学领域最近的一项技术创新是利用大容量电子显微镜 (EM) 数据集对神经元件进行三维重建进行微电路分析。使用新开发的电子显微镜系统获取大规模数据集，例如带有扫描 EM (SEM) 的自动带式收集超薄切片机 (ATUM)、串行块面 EM (SBEM) 和聚焦离子束 SEM (FIB-SEM)。目前，开发用于连续捕获的电子显微照片的配准和分割的计算机应用程序的项目也在进行中，这些应用程序适合彻底有效地分析大量电子显微数据集。海量数据集的分析可以带来创新的研究成果。这些最近可用的技术促进了我们对大脑功能结构的理解。
One recent technical innovation in neuroscience is microcircuit analysis using three-dimensional reconstructions of neural elements with a large volume Electron microscopy (EM) data set. Large-scale data sets are acquired with newly-developed electron microscope systems such as automated tape-collecting ultramicrotomy (ATUM) with scanning EM (SEM), serial block-face EM (SBEM) and focused ion beam-SEM (FIB-SEM). Currently, projects are also underway to develop computer applications for the registration and segmentation of the serially-captured electron micrographs that are suitable for analyzing large volume EM data sets thoroughly and efficiently. The analysis of large volume data sets can bring innovative research results. These recently available techniques promote our understanding of the functional architecture of the brain.
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影响因子：
48
作者：
Hayworth, Kenneth J.;Xu, C. Shan;Lu, Zhiyuan;Knott, Graham W.;Fetter, Richard D.;Tapia, Juan Carlos;Lichtman, Jeff W.;Hess, Harald F.
通讯作者：
Hess, Harald F.
用于基于电子显微镜的连接组学的大批量En-Bloc染色。
影响因子：
16.6
作者：
Hua Y;Laserstein P;Helmstaedter M
通讯作者：
Helmstaedter M
影响因子：
64.8
作者：
Bock, Davi D.;Lee, Wei-Chung Allen;Kerlin, Aaron M.;Andermann, Mark L.;Hood, Greg;Wetzel, Arthur W.;Yurgenson, Sergey;Soucy, Edward R.;Kim, Hyon Suk;Reid, R. Clay
通讯作者：
Reid, R. Clay
影响因子：
--
作者：
Drouin, Dominique;Couture, Alexandre Real;Gauvin, Raynald
通讯作者：
Gauvin, Raynald
影响因子：
5.3
作者：
Bopp, Rita;Holler-Rickauer, Simone;Schuhknecht, Gregor F. P.
通讯作者：
Schuhknecht, Gregor F. P.