放射線による半導体素子の一時故障と劣化現象
放射線による半導体素子の一時故障と劣化現象
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由于辐射导致的半导体器件的暂时故障和劣化现象
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
古田潤
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ito Akira;Ueno Rei;Homma Naofumi;鶴田靖人;古田潤
