Fault tolerance evaluation of wide area distributed application based on exhaustive FIT scenario generation
Fault tolerance evaluation of wide area distributed application based on exhaustive FIT scenario generation
复制标题
基于详尽FIT场景生成的广域分布式应用容错评估
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroki Kashiwazaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Viet Dung Nguyen;Phi Le Nguyen;Trung Hieu Nguyen;Kien Nguyen;Phan Thuan Do;Hiroki Kashiwazaki
