T.Yamaguchi, K.Kawanishi, S.Wickramanayaka, A.H.Jayatissa, M.Aoyama: "Spectroellipsometric study of amorphous thin films" Intern. Symp. on Polarization analysis and applications to device technology (Yokohama, 1996.6.13) SPIE. (Accepted for presentation).
T.Yamaguchi, K.Kawanishi, S.Wickramanayaka, A.H.Jayatissa, M.Aoyama: "Spectroellipsometric study of amorphous thin films" Intern. Symp. on Polarization analysis and applications to device technology (Yokohama, 1996.6.13) SPIE. (Accepted for presentation).
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T.Yamaguchi、K.Kawanishi、S.Wickramanayaka、A.H.Jayatissa、M.Aoyama：“非晶薄膜的光谱椭圆测量研究”实习生。
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