Analysis of surface potential of GaN layers by Kelvin Force Microscopy
Analysis of surface potential of GaN layers by Kelvin Force Microscopy
复制标题
通过开尔文力显微镜分析 GaN 层的表面电势
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Tadatomo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Okada;T. Yamamoto;K. Yamane;K. Tadatomo
