Multilayer reflectometry and quantitative analysis of higher order diffraction impurities of grating monochromator
Multilayer reflectometry and quantitative analysis of higher order diffraction impurities of grating monochromator
复制标题
光栅单色仪多层反射法及高阶衍射杂质定量分析
DOI：
10.1016/j.elspec.2014.05.002
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发表时间：
2014
影响因子：
1.9
通讯作者：
T. Harada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Hatano;T. Harada
