Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Application of an electrospray technique to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
复制标题
电喷雾技术在二次离子质谱 (SIMS) 中的应用
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤原幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yukio Fujiwara;Naoaki Saito;Hidehiko Nonaka;Shingo Ichimura;藤原幸雄;藤原幸雄;藤原幸雄;藤原幸雄
